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DTC방법을 사용한 짧은 채널 MOSFET의 전기적 특성 및 공정 파라메터 추출을 위한 시뮬레이션에 관한 연구
상세 프로파일
상세정보
자료유형 | 학위논문 |
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서명/저자사항 | DTC방법을 사용한 짧은 채널 MOSFET의 전기적 특성 및 공정 파라메터 추출을 위한 시뮬레이션에 관한 연구= Study of simulation for electrical properties of short channel MOSFET and process parameter extraction using DTC method/ 徐龍辰. |
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개인저자 | 서용진.
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단체저자명 | 중앙대학교. 대학원. 전기공학과.
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발행사항 | 서울: 中央大學校, 1994. |
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형태사항 | xii,161장: 삽화; 26cm. |
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학위논문주기 | 학위논문(박사) -- 중앙대학교 대학원:전기공학과 전기재료전공,1994 |
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비통제주제어 | DTC방법,채널,MOSFET,공정,파라메터,추출,시뮬레이션,SIMULATION,ELECTRICAL,PROPERTIES,SHORT,CHANNEL,PROCESS,PARAMETER,EXTRACTION,DTC |
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분류기호(DDC) | 621.38
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언어 | 한국어 |
소장정보
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No. |
등록번호 |
청구기호 |
소장처 |
밀집번호 |
도서상태 |
반납예정일 |
예약 |
서비스 |
매체정보 |
1 |
9052396 |
TD 621.38 서66ㄷㅈ 1994 |
중앙도서관[별관]/학위논문실/
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Z4105077 |
대출불가(별치) |
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