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초정밀 측정 및 응용기술 개발. 2 : 측정표준 하부구조 보강기술
상세 프로파일
| 자료유형 | 단행본 |
|---|---|
| 서명/저자사항 | 초정밀 측정 및 응용기술 개발= Development of precision measurement and application technology/ 과학기술처 編. 2 :, 측정표준 하부구조 보강기술. |
| 개인저자 | 백종승 |
| 단체저자명 | 한국. 과학기술처. 한국표준과학연구원. |
| 발행사항 | 경기도: 과학기술처, 1998. |
| 형태사항 | 269 p.: 삽화,챠트; 27 cm. |
| 보고서번호 | KRISS-98-037 |
| 일반주기 |
연구기관: 재단법인 한국표준과학연구원, 연구자: 백종승
|
| 서지주기 | 참고문헌포함 |
| 분류기호(DDC) | 602.18 |
| 언어 | 한국어 |
소장정보
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보존/밀집/기증 자료 신청
분관대출
서가부재도서
무인예약대출
배달서비스
소장위치출력
| No. | 등록번호 | 청구기호 | 소장처 | 밀집번호 | 도서상태 | 반납예정일 | 예약 | 서비스 | 매체정보 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 50101211 | RT 602.18 한17ㅇㅎ 98-01 c.2 | 여수캠퍼스도서관/밀집서고/ | VYA306453 | 대출가능 |
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| 2 | 540761 | 602.18 한17ㅇㅎ KRISS-98-037 | 중앙도서관[별관]/보존자료실/ | Y5009085 | 대출가능 |
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목차
- 목차
목차 일부
1, 서론. -- 2, 전기용량 원기 Vertical cross capacitor 개발. -- 3, 자체발진형 및 DAC형 조셉슨 전압표준소자 개발. -- 4, 고분자소자의 광전자 현상 연구. -- 5, 분광타원해석법을 이용한 반도체 박막의 광학상수 측정. -- 6, 롱스템 백금저항 온도계 저온교정장치 제작 연구. -- 7, 전자파재료의 고주파 유전율 측정...
목차 전체
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