전남대학교 중앙도서관

  • 중앙도서관
  • 여수캠퍼스도서관
  • 법학도서관
  • 치의학도서관
  • 의학도서관

주메뉴

전체메뉴


전자자료 상세검색

전자자료 상세검색

통합검색
상세검색
검색어 [키워드: "Nelson, S"]
8,498건 
※ 중복 레코드가 제거된 검색 결과가 표시됩니다.
1/850 페이지 RSS 엑셀파일 출력
검색결과수정
  • 검색범위확장
    • Full Text내 키워드 확장
    • 관련 주제어 확장

    재검색

  • 검색결과제한
    • 원문(Full Text)
    • Peer-Reviewed 학술지
    • 발행년 -

    재검색

  • 자료유형
    • Academic Journals (7,168)
    • Magazines (618)
    • Conference Materials (188)

    더보기

    재검색

  • 주제
    • brain (87)
    • lung (87)
    • ethanol (73)

    더보기

    재검색

  • Lexile Range
    • 1301-1500+ (64)
    • 1101-1300 (13)
    • 701-900 (1)

    재검색

  • 간행물
    • physical review letters (233)
    • physics letters b (114)
    • nursing inquiry (61)

    더보기

    재검색

  • 출판사
    • wiley-blackwell (494)
    • amer physical soc (344)
    • lippincott williams & wilkins (279)

    더보기

    재검색

  • 언어
    • english (7,703)
    • portuguese (16)
    • undetermined (16)

    더보기

    재검색

  • Publication Year
    • 2006 (27)
    • 2007 (23)
    • 2009 (23)

    더보기

    재검색

  • 수록데이터베이스
    • MEDLINE (2,731)
    • Science Citation Index Expanded (1,774)
    • Complementary Index (971)

    더보기

    재검색

  • PQDTSearch
  • CAJSearch
  • RISSSearch
  • PsycINFOSearch

 

출판물 검색결과(총 2건)

1. Looking Back on Nelson Mandela's Legacy

978-1-5034-8279-1;

Education -- Education (General)

전문(Full Text) 제공 DB / 패키지 :

2. Serge Gainsbourg's Histoire De Melody Nelson

978-1-62356-287-8;

Music and books on music -- Literature on music -- History and criticism

전문(Full Text) 제공 DB / 패키지 :

더보기

펼치기 닫기
4

학술저널

issue
IEEE Transactions on Biomedical Engineering IEEE Trans. Biomed. Eng. Biomedical Engineering, IEEE Transactions on. 71(2):542-552 Feb, 2024
Author
Azapagic, A.
Agarwal, J.
Gale, B.
Li, H.
Nelson, S.
Shea, J.
Sant, H.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
5

회의자료

issue
2023 15th Electrical Engineering Faculty Conference (BulEF) Electrical Engineering Faculty Conference (BulEF), 2023 15th. :1-6 Sep, 2023
Author
Andres, Nelson S.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
6

학술저널

issue
Southern Review. 55(3):460-468
Author
Nelson, S. Tremaine
DB Label
Database : ProjectMUSE
원문보기
8

보고서

Author
PHENIX Collaboration
Abdulameer, N. J.
Acharya, U.
Adare, A.
Aidala, C.
Ajitanand, N. N.
Akiba, Y.
Akimoto, R.
Alexander, J.
Alfred, M.
Andrieux, V.
Aoki, K.
Apadula, N.
Asano, H.
Atomssa, E. T.
Awes, T. C.
Azmoun, B.
Babintsev, V.
Bai, M.
Bai, X.
Bandara, N. S.
Bannier, B.
Barish, K. N.
Bathe, S.
Baublis, V.
Baumann, C.
Baumgart, S.
Bazilevsky, A.
Beaumier, M.
Beckman, S.
Belmont, R.
Berdnikov, A.
Berdnikov, Y.
Bichon, L.
Black, D.
Blankenship, B.
Blau, D. S.
Bok, J. S.
Borisov, V.
Boyle, K.
Brooks, M. L.
Bryslawskyj, J.
Buesching, H.
Bumazhnov, V.
Butsyk, S.
Campbell, S.
Roman, V. Canoa
Cervantes, R.
Chen, C. -H.
Chiu, M.
Chi, C. Y.
Choi, I. J.
Choi, J. B.
Choi, S.
Christiansen, P.
Chujo, T.
Cianciolo, V.
Citron, Z.
Cole, B. A.
Connors, M.
Corliss, R.
Morales, Y. Corrales
Cronin, N.
Crossette, N.
Csanád, M.
Csörgő, T.
D'Orazio, L.
Danley, T. W.
Datta, A.
Daugherity, M. S.
David, G.
Dean, C. T.
DeBlasio, K.
Dehmelt, K.
Denisov, A.
Deshpande, A.
Desmond, E. J.
Ding, L.
Dion, A.
Diss, P. B.
Dixit, D.
Doomra, V.
Do, J. H.
Drapier, O.
Drees, A.
Drees, K. A.
Durham, J. M.
Durum, A.
En'yo, H.
Engelmore, T.
Enokizono, A.
Esha, R.
Eyser, K. O.
Fadem, B.
Fan, W.
Feege, N.
Fields, D. E.
Finger, Jr., M.
Finger, M.
Firak, D.
Fitzgerald, D.
Fleuret, F.
Fokin, S. L.
Frantz, J. E.
Franz, A.
Frawley, A. D.
Fukao, Y.
Fukuda, Y.
Fusayasu, T.
Gainey, K.
Gallus, P.
Gal, C.
Garg, P.
Garishvili, A.
Garishvili, I.
Ge, H.
Giles, M.
Giordano, F.
Glenn, A.
Gong, X.
Gonin, M.
Goto, Y.
de Cassagnac, R. Granier
Grau, N.
Greene, S. V.
Perdekamp, M. Grosse
Gu, Y.
Gunji, T.
Guo, T.
Guragain, H.
Hachiya, T.
Haggerty, J. S.
Hahn, K. I.
Hamagaki, H.
Hamilton, H. F.
Hanks, J.
Han, S. Y.
Harvey, M.
Hasegawa, S.
Haseler, T. O. S.
Hashimoto, K.
Hayano, R.
Hemmick, T. K.
Hester, T.
He, X.
Hill, J. C.
Hill, K.
Hodges, A.
Hollis, R. S.
Homma, K.
Hong, B.
Hoshino, T.
Hotvedt, N.
Huang, J.
Ichihara, T.
Ikeda, Y.
Imai, K.
Imazu, Y.
Inaba, M.
Iordanova, A.
Isenhower, D.
Isinhue, A.
Ivanishchev, D.
Jacak, B. V.
Jeon, S. J.
Jezghani, M.
Jiang, X.
Ji, Z.
Johnson, B. M.
Joo, K. S.
Jouan, D.
Jumper, D. S.
Kamin, J.
Kanda, S.
Kang, B. H.
Kang, J. H.
Kang, J. S.
Kapukchyan, D.
Kapustinsky, J.
Karthas, S.
Kawall, D.
Kazantsev, A. V.
Key, J. A.
Khachatryan, V.
Khandai, P. K.
Khanzadeev, A.
Khatiwada, A.
Kijima, K. M.
Kimelman, B.
Kim, C.
Kim, D. J.
Kim, E. -J.
Kim, G. W.
Kim, M.
Kim, T.
Kim, Y. -J.
Kim, Y. K.
Kincses, D.
Kingan, A.
Kistenev, E.
Kitamura, R.
Klatsky, J.
Kleinjan, D.
Kline, P.
Koblesky, T.
Kofarago, M.
Komkov, B.
Koster, J.
Kotchetkov, D.
Kotov, D.
Kovacs, L.
Krizek, F.
Kudo, S.
Kurgyis, B.
Kurita, K.
Kurosawa, M.
Kwon, Y.
Lai, Y. S.
Lajoie, J. G.
Larionova, D.
Lebedev, A.
Lee, D. M.
Lee, G. H.
Lee, J.
Lee, K. B.
Lee, K. S.
Lee, S.
Lee, S. H.
Leitch, M. J.
Leitgab, M.
Leung, Y. H.
Lewis, B.
Lewis, N. A.
Lim, S. H.
Liu, M. X.
Li, X.
Loggins, V. -R.
Loomis, D. A.
Lovasz, K.
Lynch, D.
Lökös, S.
Maguire, C. F.
Majoros, T.
Makdisi, Y. I.
Makek, M.
Manion, A.
Manko, V. I.
Mannel, E.
McCumber, M.
McGaughey, P. L.
McGlinchey, D.
McKinney, C.
Meles, A.
Mendoza, M.
Meredith, B.
Miake, Y.
Mibe, T.
Mignerey, A. C.
Milov, A.
Mishra, D. K.
Mitchell, J. T.
Mitrankova, M.
Mitrankov, Iu.
Mitsuka, G.
Miyasaka, S.
Mizuno, S.
Mohanty, A. K.
Mohapatra, S.
Mondal, M. M.
Montuenga, P.
Moon, T.
Morrison, D. P.
Moskowitz, M.
Moukhanova, T. V.
Muhammad, A.
Mulilo, B.
Murakami, T.
Murata, J.
Mwai, A.
Nagae, T.
Nagai, K.
Nagamiya, S.
Nagashima, K.
Nagashima, T.
Nagle, J. L.
Nagy, M. I.
Nakagawa, I.
Nakagomi, H.
Nakamiya, Y.
Nakamura, K. R.
Nakamura, T.
Nakano, K.
Nattrass, C.
Nelson, S.
Netrakanti, P. K.
Nihashi, M.
Niida, T.
Nishimura, S.
Nouicer, R.
Novitzky, N.
Novák, T.
Nukazuka, G.
Nyanin, A. S.
O'Brien, E.
Ogilvie, C. A.
Oh, J.
Oide, H.
Okada, K.
Koop, J. D. Orjuela
Orosz, M.
Oskarsson, A.
Ottino, G. J.
Ozawa, K.
Pak, R.
Pantuev, V.
Papavassiliou, V.
Park, I. H.
Park, J. S.
Park, S.
Park, S. K.
Patel, L.
Patel, M.
Pate, S. F.
Peng, J. -C.
Peng, W.
Perepelitsa, D. V.
Perera, G. D. N.
Peressounko, D. Yu.
PerezLara, C. E.
Perry, J.
Petti, R.
Phipps, M.
Pinkenburg, C.
Pinson, R.
Pisani, R. P.
Potekhin, M.
Pun, A.
Purschke, M. L.
Qu, H.
Radzevich, P. V.
Rak, J.
Ramasubramanian, N.
Ramson, B. J.
Ravinovich, I.
Read, K. F.
Reynolds, D.
Riabov, V.
Riabov, Y.
Richardson, E.
Richford, D.
Rinn, T.
Riveli, N.
Roach, D.
Rolnick, S. D.
Rosati, M.
Rowan, Z.
Rubin, J. G.
Runchey, J.
Ryu, M. S.
Safonov, A. S.
Sahlmueller, B.
Saito, N.
Sakaguchi, T.
Sako, H.
Samsonov, V.
Sarsour, M.
Sato, S.
Sawada, S.
Schaefer, B.
Schmoll, B. K.
Sedgwick, K.
Seele, J.
Seidl, R.
Sekiguchi, Y.
Sen, A.
Seto, R.
Sett, P.
Sexton, A.
Sharma, D.
Shaver, A.
Shein, I.
Shibata, M.
Shibata, T. -A.
Shigaki, K.
Shimomura, M.
Shioya, T.
Shi, Z.
Shoji, K.
Shukla, P.
Sickles, A.
Silva, C. L.
Silvermyr, D.
Singh, B. K.
Singh, V.
Skolnik, M.
Slunečka, M.
Smith, K. L.
Snowball, M.
Solano, S.
Soltz, R. A.
Sondheim, W. E.
Sorensen, S. P.
Sourikova, I. V.
Stankus, P. W.
Steinberg, P.
Stenlund, E.
Stepanov, M.
Ster, A.
Stoll, S. P.
Stone, M. R.
Sugitate, T.
Sukhanov, A.
Sumita, T.
Sun, J.
Sun, Z.
Sziklai, J.
Takahama, R.
Takahara, A.
Taketani, A.
Tanaka, Y.
Tanida, K.
Tannenbaum, M. J.
Tarafdar, S.
Taranenko, A.
Tarnai, G.
Tennant, E.
Tieulent, R.
Timilsina, A.
Todoroki, T.
Tomášek, M.
Torii, H.
Towell, C. L.
Towell, R.
Towell, R. S.
Tserruya, I.
Ueda, Y.
Ujvari, B.
van Hecke, H. W.
Vargyas, M.
Vazquez-Zambrano, E.
Veicht, A.
Velkovska, J.
Virius, M.
Vrba, V.
Vukman, N.
Vznuzdaev, E.
Vértesi, R.
Wang, X. R.
Wang, Z.
Watanabe, D.
Watanabe, K.
Watanabe, Y.
Watanabe, Y. S.
Wei, F.
Whitaker, S.
White, A. S.
Wolin, S.
Wong, C. P.
Woody, C. L.
Wysocki, M.
Xia, B.
Xue, L.
Xu, C.
Xu, Q.
Yalcin, S.
Yamaguchi, Y. L.
Yamamoto, H.
Yanovich, A.
Yokkaichi, S.
Yoon, I.
Yoo, J. H.
Younus, I.
You, Z.
Yushmanov, I. E.
Yu, H.
Zajc, W. A.
Zelenski, A.
Zhou, S.
Zou, L.
DB Label
Database : arXiv
원문보기
9

학술저널

issue
IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 58(8):2349-2359 Aug, 2023
Author
Forbes, T.
Magstadt, B.
Moody, J.
Saugen, J.
Suchanek, A.
Nelson, S.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
1 2 3 4 5  

QUICK LINK

  • 희망도서신청
  • 대출/연장조회
  • 서가부재도서
  • 이용교육

마이메뉴추가


QRCode
  • 개인정보호정책
  • 이메일무단수집거부
  • 도서관이용문의

  • 도서관자치위원회  원격제어  Instagram  facebook  w  kakao 플친
500-757 광주광역시 북구 용봉로 77   TEL  062)530-3571~2(대출반납실)   FAX  062)530-3529
  • 22786
  • 125837585