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1

학술저널

issue
IEEE Design & Test IEEE Des. Test Design & Test, IEEE. 42(1):20-27 Feb, 2025
Author
Kim, J.
Picek, S.
Heuser, A.
Bhasin, S.
Hanjalic, A.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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2

학술저널

issue
IEEE Design & Test IEEE Des. Test Design & Test, IEEE. 41(5):36-45 Oct, 2024
Author
Chattopadhyay, A.
Bhasin, S.
Guneysu, T.
Bhunia, S.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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3

학술저널

issue
IEEE Transactions on Dependable and Secure Computing IEEE Trans. Dependable and Secure Comput. Dependable and Secure Computing, IEEE Transactions on. 21(3):1331-1341 Jun, 2024
Author
Wu, L.
Won, Y.
Jap, D.
Perin, G.
Bhasin, S.
Picek, S.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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4

학술저널

issue
IEEE Design & Test IEEE Des. Test Design & Test, IEEE. 41(2):32-38 Apr, 2024
Author
Picek, S.
Heuser, A.
Jovic, A.
Bhasin, S.
Regazzoni, F.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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5

학술저널

issue
IEEE Design & Test IEEE Des. Test Design & Test, IEEE. 41(5):5-6 Oct, 2024
Author
Bhasin, S.
Chattopadhyay, A.
Guneysu, T.
Bhunia, S.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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6

학술저널

issue
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 73:1-11 2024
Author
Saini, M.
Jain, A.
Muthukrishnan, S.P.
Bhasin, S.
Roy, S.
Kumar, L.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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7

학술저널

issue
IEEE Control Systems Letters IEEE Control Syst. Lett. Control Systems Letters, IEEE. 8:3422-3427 2024
Author
Patel, P.
Basu Roy, S.
Bhasin, S.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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8

학술저널

issue
IEEE Control Systems Letters IEEE Control Syst. Lett. Control Systems Letters, IEEE. 8:1775-1780 2024
Author
Dey, A.
Bhasin, S.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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9

학술저널

issue
IEEE Control Systems Letters IEEE Control Syst. Lett. Control Systems Letters, IEEE. 8:309-314 2024
Author
Surendhar, S.
Roy, S.B.
Bhasin, S.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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