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components, circuits, devices and systems
(231)
engineered materials, dielectrics and plasmas
(181)
insulated gate bipolar transistors
(84)
주제
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components, circuits, devices and systems
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engineered materials, dielectrics and plasmas
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insulated gate bipolar transistors
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(
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silicon on insulator technology
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27
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current density
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thyristors
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26
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computing and processing
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temperature
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communication, networking and broadcast technologies
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24
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jfets
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power mosfet
(
24
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temperature measurement
(
24
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electric fields
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schottky diodes
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mosfet circuits
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resistance
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superjunction
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diamond
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junctions
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power integrated circuits
(
20
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insulated gate bipolar transistor (igbt)
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performance evaluation
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cmos technology
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jfet
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ieee transactions on electron devices
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ieee transactions on electron devices, electron devices, ieee transactions on, ieee trans. electron devices
(34)
ieee electron device letters, electron device letters, ieee, ieee electron device lett.
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간행물
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Name
ieee transactions on electron devices
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ieee transactions on electron devices, electron devices, ieee transactions on, ieee trans. electron devices
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ieee electron device letters, electron device letters, ieee, ieee electron device lett.
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ieee electron device letters
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solid-state electronics
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materials science forum
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procedia engineering
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microelectronics journal
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applied physics letters
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solid state electronics
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iee proceedings -- circuits, devices & systems
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microelectronic engineering
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sensors basel switzerland
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2004 international semiconductor conference. cas 2004 proceedings (ieee cat. no.04th8748)
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diamond & related materials
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electronics letters
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nanotechnology
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scientific reports
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electronics letters (institution of engineering & technology)
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journal of applied physics
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journal of nanoscience and nanotechnology
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2001 international semiconductor conference. cas 2001 proceedings (cat. no.01th8547)
(
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2006 international semiconductor conference
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diamond and related materials
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proceedings international semiconductor conference
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2009 21st international symposium on power semiconductor devices & ic's
(
4
)
2010 22nd international symposium on power semiconductor devices & ic's (ispsd)
(
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)
2011 international semiconductor conference (cas)
(
4
)
cas 2005 proceedings 2005 international semiconductor conference, 2005
(
4
)
iee proceedings-circuits devices and systems
(
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)
international journal of electronics
(
4
)
ispsd '03. 2003 ieee 15th international symposium on power semiconductor devices & ics, 2003
(
4
)
sensors & actuators b: chemical
(
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)
sensors and actuators b-chemical
(
4
)
2000 international semiconductor conference. 23rd edition. cas 2000 proceedings (cat. no.00th8486)
(
3
)
2006 ieee international symposium on power semiconductor devices & ic's
(
3
)
2012 24th international symposium on power semiconductor devices & ics
(
3
)
ieee sensors 2014 proceedings
(
3
)
microelectronics reliability
(
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)
nanoscale
(
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proceedings ispsd '05. the 17th international symposium on power semiconductor devices & ics, 2005
(
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)
proceedings of ieee sensors (9780780374546)
(
3
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proceedings of the 13th international symposium on power semiconductor devices & ics. ipsd '01 (ieee cat. no.01ch37216)
(
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)
sensors & actuators: b. chemical
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)
rsc advances
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perspectives, science and technologies for novel silicon on insulator devices
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transducers '01 eurosensors xv : the 11th international conference on solid-state sensors and actuators june 10 - 14, 2001 munich, germany
(
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)
한국전기전자재료학회 2008년도 하계학술대회 논문집 vol.9
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출판사
ieee
(436)
elsevier b.v.
(37)
ieee-inst electrical electronics engineers inc
(28)
출판사
Count
Name
ieee
(
436
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elsevier b.v.
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37
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ieee-inst electrical electronics engineers inc
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pergamon-elsevier science ltd
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institution of engineering & technology
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inst engineering technology-iet
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american scientific publishers
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elsevier
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나노 금속산화물을 이용한 유단말용 환경 모니터링 서브 시스템
Environmental Monitoring Sub-System for Ubiquitous Terminal Using Metal Oxide Nano-Material Gas Sensor
회의자료
issue
한국전기전자재료학회 2008년도 하계학술대회 논문집 Vol.9
. 2008 2008:63-63
Author
Moon, S.E.
Lee, H.Y.
Lee, J.W.
Park, J.
Park, S.J.
Kwak, J.H.
Maeng, S.
Park, K.H
Kim, J.
Udrea, F.
Milne, W.I.
문승언
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박소정
곽준혁
맹성렬
박강호
김종대
DB Label
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2
Gate Robustness and Reliability of P-Gate GaN HEMT Evaluated by a Circuit Method
학술저널
issue
IEEE Transactions on Power Electronics IEEE Trans. Power Electron. Power Electronics, IEEE Transactions on. 39(5):5576-5589 May, 2024
Author
Wang, B.
Zhang, R.
Song, Q.
Wang, H.
He, Q.
Li, Q.
Udrea
,
F
.
Zhang, Y.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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조회 - Impact Factor (JCR)
3
Numerical Simulation and Analytical Modeling of Multichannel AlGaN/GaN Devices
학술저널
issue
IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(3):1710-1717 Mar, 2024
Author
He, Q.
Wang, H.
Xiao, M.
Zhang, Y.
Sheng, K.
Udrea
,
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.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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등재 - SCOPUS
조회 - Impact Factor (JCR)
4
1 kV Self-Aligned Vertical GaN Superjunction Diode
학술저널
issue
IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 45(1):12-15 Jan, 2024
Author
Ma, Y.
Porter, M.
Qin, Y.
Spencer, J.
Du, Z.
Xiao, M.
Wang, Y.
Kravchenko, I.
Briggs, D.P.
Hensley, D.K.
Udrea
,
F
.
Tadjer, M.
Wang, H.
Zhang, Y.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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등재 - SCOPUS
조회 - Impact Factor (JCR)
5
Demonstrating the ICeGaN integrated power HEMT approach towards extreme gate robustness
회의자료
issue
2023 International Semiconductor Conference (CAS) Semiconductor Conference (CAS), 2023 International. :89-92 Oct, 2023
Author
Mukherjee, K.
Efthymiou, L.
Ledins, K.
Popa, D.
Wang, B.
Song, Q.
Zhang, Y.
Longobardi, G.
Udrea
,
F
.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
6
4H-SiC Trench Gate Lateral MOSFET With Dual Source Trenches for Improved Performance and Reliability
학술저널
issue
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability IEEE Trans. Device Mater. Relib. Device and Materials Reliability, IEEE Transactions on. 23(1):2-8 Mar, 2023
Author
Wang, H.
Wang, B.
Kong, L.
Liu, L.
Chen, H.
Long, T.
Udrea
,
F
.
Sheng, K.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
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등재 - Web of Science (SCIE)
등재 - SCOPUS
조회 - Impact Factor (JCR)
7
Dynamic Gate Breakdown of p-Gate GaN HEMTs in Inductive Power Switching
학술저널
issue
IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 44(2):217-220 Feb, 2023
Author
Wang, B.
Zhang, R.
Wang, H.
He, Q.
Song, Q.
Li, Q.
Udrea
,
F
.
Zhang, Y.
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조회 - Impact Factor (JCR)
8
750V Narrow Mesa IGBT vs SJ-IGBT: Performance and SC-SOA Assessment
회의자료
issue
2022 IEEE 34th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD) Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), 2022 IEEE 34th International Symposium on. :237-240 May, 2022
Author
Ngwendson, L.
Kong, C.
Gupta, S.
Su, A.
Wang, Y.
Qin, M.
Xiao, Q.
Luo, H.
Ning, X.
Yao, Y.
Trajkovic, T.
Udrea
,
F
.
Pathirana, V.
Chan, C.
Udugampola, N.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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9
Experimental demonstration, challenges, and prospects of the vertical SiC FinFET
회의자료
issue
2022 IEEE 34th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD) Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), 2022 IEEE 34th International Symposium on. :253-256 May, 2022
Author
Udrea
,
F
.
Naydenov, K.
Kang, H.
Kato, T.
Kagoshima, E.
Fujioka, H.
Tomita, H.
Nishiwaki, T.
Fujiwara, H.
Kimoto, T.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
10
Optimisation of the carrier lifetime profile in 1.2kV planar and trench SiC MOSFETs
회의자료
issue
2022 IEEE 34th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD) Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), 2022 IEEE 34th International Symposium on. :233-236 May, 2022
Author
Naydenov, K.
Donato, N.
Udrea
,
F
.
Mihaila, A.
Romano, G.
Wirths, S.
Knoll, L.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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가톨릭대학교 도서관
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강릉대학교 도서관
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