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1
Worst-Case Energy Consumption: A New Challenge for Battery-Powered Critical Devices 미리보기

학술저널

issue
IEEE Transactions on Sustainable Computing IEEE Trans. Sustain. Comput. Sustainable Computing, IEEE Transactions on. 6(3):522-530 Sep, 2021
Author
Trilla, D.
Hernandez, C.
Abella, J.
Cazorla, F.J.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)  등재 - SCOPUS  등재 - Web of Science (SCIE) 
2
SELENE: Self-Monitored Dependable Platform for High-Performance Safety-Critical Systems 미리보기

회의자료

issue
2020 23rd Euromicro Conference on Digital System Design (DSD) Digital System Design (DSD), 2020 23rd Euromicro Conference on. :370-377 Aug, 2020
Author
Hernandez, C.
Flieh, J.
Paredes, R.
Lefebvre, C.-A.
Allende, I.
Abella, J.
Trilla, D.
Matschnig, M.
Fischer, B.
Schwarz, K.
Kiszka, J.
Ronnback, M.
Klockars, J.
McGuire, N.
Rammerstorfer, F.
Schwarzl, C.
Wartet, F.
Ludemann, D.
Labayen, M.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE) 
3
Randomization for Safer, more Reliable and Secure, High-Performance Automotive Processors 미리보기

학술저널

issue
IEEE Design & Test IEEE Des. Test Design & Test, IEEE. 36(6):39-47 Dec, 2019
Author
Trilla, D.
Cazorla, F.J.
Hernandez, C.
Abella, J.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)  등재 - SCOPUS  조회 - Impact Factor (JCR)  등재 - Web of Science (SCIE) 
4
Modelling bus contention during system early design stages 미리보기

회의자료

issue
2017 12th IEEE International Symposium on Industrial Embedded Systems (SIES) Industrial Embedded Systems (SIES), 2017 12th IEEE International Symposium on. :1-8 Jun, 2017
Author
Trilla, D.
Hernandez, C.
Abella, J.
Cazorla, F.J.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE) 
5
Aging Assessment and Design Enhancement of Randomized Cache Memories 미리보기

학술저널

issue
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability IEEE Trans. Device Mater. Relib. Device and Materials Reliability, IEEE Transactions on. 17(1):32-41 Mar, 2017
Author
Trilla, D.
Hernandez, C.
Abella, J.
Cazorla, F.J.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)  등재 - SCOPUS  조회 - Impact Factor (JCR)  등재 - Web of Science (SCIE) 
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