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[키워드: "Natarajan, Suriyaprakash"]
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Conference Materials
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components, circuits, devices and systems
(22)
computing and processing
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circuit faults
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주제
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Name
components, circuits, devices and systems
(
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computing and processing
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circuit faults
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testing
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6
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5
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5
)
silicon
(
5
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4
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stuck-at faults
(
4
)
very large scale integration
(
4
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computational modeling
(
3
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costs
(
3
)
deep learning
(
3
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defects
(
3
)
failure analysis
(
3
)
life estimation
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3
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logic gates
(
3
)
microprocessors
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3
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neural network accelerator
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3
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parametric faults
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sensitivity
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simulation
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stress
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voltage
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apr
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circuit simulation
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circuit testing
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delay testing
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design
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design for test
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2
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diagnosis
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digital circuits
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2
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engineered materials, dielectrics and plasmas
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fault detection
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2
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fault tolerance
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)
fault tolerant systems
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2
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frequency
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functional optimization
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2
)
integrated circuit interconnections
(
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간행물
ieee transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
(4)
proceedings of the international conference on computer-aided design
(3)
2016 ieee 34th vlsi test symposium (vts)
(2)
간행물
Count
Name
ieee transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
(
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)
proceedings of the international conference on computer-aided design
(
3
)
2016 ieee 34th vlsi test symposium (vts)
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2020 ieee international test conference (itc), test conference (itc), 2020 ieee international
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29th vlsi test symposium, vlsi test symposium (vts), 2011 ieee 29th
(
2
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ieee design & test of computers
(
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ieee transactions on computers
(
2
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ieee transactions on very large scale integration (vlsi) systems
(
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16th asian test symposium (ats 2007), asian test symposium, 2007. ats '07. 16th
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2008 ieee international test conference, test conference, 2008. itc 2008. ieee international
(
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2010 28th vlsi test symposium (vts)
(
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2010 28th vlsi test symposium (vts), vlsi test symposium (vts), 2010 28th
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2010 ieee international test conference, test conference (itc), 2010 ieee international
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2013 ieee 31st vlsi test symposium (vts)
(
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2013 ieee 31st vlsi test symposium (vts), vlsi test symposium (vts), 2013 ieee 31st
(
1
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2013 ieee/acm international conference on computer-aided design (iccad)
(
1
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2013 ieee/acm international conference on computer-aided design (iccad), computer-aided design (iccad), 2013 ieee/acm international conference on
(
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2014 international test conference
(
1
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2014 international test conference, test conference (itc), 2014 ieee international
(
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2015 design, automation & test in europe conference & exhibition (date)
(
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2015 design, automation & test in europe conference & exhibition (date), design, automation & test in europe conference & exhibition (date), 2015
(
1
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2015 ieee 24th asian test symposium (ats)
(
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2015 ieee 24th asian test symposium (ats), test symposium (ats), 2015 ieee 24th asian
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2015 ieee international conference on electronics, circuits & systems (icecs)
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2015 ieee international conference on electronics, circuits, and systems (icecs), electronics, circuits, and systems (icecs), 2015 ieee international conference on
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2016 21st asia & south pacific design automation conference (asp-dac)
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2016 21st asia and south pacific design automation conference (asp-dac), design automation conference (asp-dac), 2016 21st asia and south pacific
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2016 ieee 34th vlsi test symposium (vts), vlsi test symposium (vts), 2016 ieee 34th
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2020 ieee 38th vlsi test symposium (vts), vlsi test symposium (vts), 2020 ieee 38th
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2021 22nd international symposium on quality electronic design (isqed), quality electronic design (isqed), 2021 22nd international symposium on
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2021 ieee 39th vlsi test symposium (vts), test symposium (vts), 2021 ieee 39th vlsi
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2022 ieee 31st asian test symposium (ats), test symposium (ats), 2022 ieee 31st asian, ats
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2022 ieee international test conference (itc), test conference (itc), 2022 ieee international, itc
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ieee design & test
(
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ieee design & test of computers, design & test of computers, ieee, ieee des. test. comput.
(
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ieee journal of emerging and selected topics in circuits and systems
(
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ieee journal on emerging and selected topics in circuits and systems
(
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integration
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integration: the vlsi journal
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integration-the vlsi journal
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international symposium on quality electronic design (isqed)
(
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international symposium on quality electronic design (isqed), quality electronic design (isqed), 2013 14th international symposium on
(
1
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proceedings of the 18th acm great lakes symposium on vlsi
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1
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proceedings of the 18th acm great lakes symposium: vlsi
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proceedings of the 2015 design, automation & test in europe conference & exhibition
(
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proceedings of the international conference computer-aided design
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ieee
(36)
ieee-inst electrical electronics engineers inc
(5)
association for computing machinery
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출판사
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Name
ieee
(
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ieee-inst electrical electronics engineers inc
(
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association for computing machinery
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2
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ieee computer soc
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IEEE Xplore Digital Library
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수록데이터베이스
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IEEE Xplore Digital Library
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Complementary Index
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Science Citation Index Expanded
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Enhancing Functional Safety in Automotive AMS Circuits through Unsupervised Machine Learning
보고서
Author
Arunachalam, Ayush
Kintz, Ian
Banerjee, Suvadeep
Raha, Arnab
Jin, Xiankun
Su, Fei
Prasanth, Viswanathan Pillai
Parekhji, Rubin A.
Natarajan
,
Suriyaprakash
Basu, Kanad
DB Label
Database : arXiv
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Open Access (Arxiv)
2
Using Fault Detection Tests to Produce Diagnostic Tests Targeting Large Sets of Candidate Faults
회의자료
issue
2022 IEEE 31st Asian Test Symposium (ATS) ATS Test Symposium (ATS), 2022 IEEE 31st Asian. :120-125 Nov, 2022
Author
Addepalli, Hari
Pomeranz, Irith
Amyeen, Enamul
Natarajan
,
Suriyaprakash
Sinha, Arani
Venkataraman, Srikanth
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
3
DEFCON: Defect Acceleration through Content Optimization
회의자료
issue
2022 IEEE International Test Conference (ITC) ITC Test Conference (ITC), 2022 IEEE International. :298-304 Sep, 2022
Author
Natarajan
,
Suriyaprakash
Sathaye, Abhijit
Oak, Chaitali
Chaplot, Nipun
Banerjee, Suvadeep
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
4
Two Pattern Timing Tests Capturing Defect-Induced Multi-Gate Delay Impact of Shorts
회의자료
issue
2021 IEEE 39th VLSI Test Symposium (VTS) Test Symposium (VTS), 2021 IEEE 39th VLSI. :1-7 Apr, 2021
Author
Pandey, Sujay
Liao, Zhiwei
Nandi, Shreyas
Natarajan
,
Suriyaprakash
Sinha, Arani
Singh, Adit
Chatterjee, Abhijit
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
5
HardCompress: A Novel Hardware-based Low-power Compression Scheme for DNN Accelerators
회의자료
issue
2021 22nd International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) Quality Electronic Design (ISQED), 2021 22nd International Symposium on. :457-462 Apr, 2021
Author
Arunachalam, Ayush
Kundu, Shamik
Raha, Arnab
Banerjee, Suvadeep
Natarajan
,
Suriyaprakash
Basu, Kanad
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
6
SAT-ATPG Generated Multi-Pattern Scan Tests for Cell Internal Defects: Coverage Analysis for Resistive Opens and Shorts
회의자료
issue
2020 IEEE International Test Conference (ITC) Test Conference (ITC), 2020 IEEE International. :1-10 Nov, 2020
Author
Pandey, Sujay
Liao, Zhiwei
Nandi, Shreyas
Gupta, Sanya
Natarajan
,
Suriyaprakash
Sinha, Arani
Singh, Adit
Chatterjee, Abhijit
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
7
Automating Design For Yield: Silicon Learning to Predictive Models and Design Optimization
회의자료
issue
2020 IEEE International Test Conference (ITC) Test Conference (ITC), 2020 IEEE International. :1-10 Nov, 2020
Author
Raman, Srikanth Venkat
Limpisathian, Pongpachara
Meinerzhagen, Pascal
Natarajan
,
Suriyaprakash
Yang, Eric
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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8
Automated Design For Yield Through Defect Tolerance
회의자료
issue
2020 IEEE 38th VLSI Test Symposium (VTS) VLSI Test Symposium (VTS), 2020 IEEE 38th. :1-6 Apr, 2020
Author
Natarajan
,
Suriyaprakash
Malavasi, Andres F.
Meinerzhagen, Pascal A.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
9
Fault simulation for analog test coverage
회의자료
issue
2016 IEEE International Test Conference (ITC) Test Conference (ITC), 2016 IEEE International. :1-7 Nov, 2016
Author
Sequeira, Jyotsna
Natarajan
,
Suriyaprakash
Goteti, Prashant
Chaudhary, Nitin
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
10
Infant mortality tests for analog and mixed-signal circuits
회의자료
issue
2016 IEEE 34th VLSI Test Symposium (VTS) VLSI Test Symposium (VTS), 2016 IEEE 34th. :1-6 Apr, 2016
Author
Banerjee, Suvadeep
Natarajan
,
Suriyaprakash
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
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생물학연구정보센터(포항공과대학교)
의약연구정보센터(숙명여자대학교)
의학연구정보센터(충북대학교)
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