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[키워드: "Hargrove, M."]
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Magazines
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1
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주제
cardiopulmonary bypass
(26)
components, circuits, devices and systems
(20)
engineered materials, dielectrics and plasmas
(19)
주제
Count
Name
cardiopulmonary bypass
(
26
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components, circuits, devices and systems
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20
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engineered materials, dielectrics and plasmas
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(
5
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eustress
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mosfets
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antibodies, monoclonal
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esophagitis
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killer cells, lymphokine-activated
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performance
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adjuvants, immunologic
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1301-1500+
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perfusion
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journal of the louisiana state medical society official organ of the louisiana state medical society
(15)
southern medical journal
(11)
간행물
Count
Name
perfusion
(
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)
journal of the louisiana state medical society official organ of the louisiana state medical society
(
15
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southern medical journal
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cellular immunology
(
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journal of immunology baltimore md 1950
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biochemistry
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annals of the american thoracic society
(
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journal of extra corporeal technology
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journal of organizational behavior (john wiley & sons, inc.)
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european journal of cardio-thoracic surgery
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ieee transactions on electron devices, electron devices, ieee transactions on, ieee trans. electron devices
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irish journal of medical science
(
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perfusion-uk
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proceedings of the national academy of sciences of the united states of america
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psychosomatic medicine
(
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stress & health: journal of the international society for the investigation of stress
(
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technical communication
(
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)
1996 symposium on vlsi technology digest of technical papers
(
2
)
1996 symposium on vlsi technology. digest of technical papers, vlsi technology, 1996. digest of technical papers. 1996 symposium on, vlsi technology
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academy of management annual meeting proceedings
(
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(
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annals of thoracic surgery
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applied physics letters
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journal of wound, ostomy & continence nursing
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photochemistry and photobiology
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plant physiology
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proceedings of spie
(
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stress and health
(
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1983 symposium on vlsi technology. digest of technical papers, vlsi technology, 1983. digest of technical papers. symposium on
(
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)
1999 ieee international reliability physics symposium proceedings. 37th annual (cat. no.99ch36296), reliability physics symposium proceedings, 1999. 37th annual. 1999 ieee international, reliability physics
(
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)
1999 symposium on vlsi technology. digest of technical papers (ieee cat. no.99ch36325), vlsi technology, 1999. digest of technical papers. 1999 symposium on, vlsi technology
(
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2000 international conference on simulation semiconductor processes and devices (cat. no.00th8502), simulation of semiconductor processes and devices, 2000. sispad 2000. 2000 international conference on, simulation of semiconductor processes and devices
(
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2000 symposium on vlsi technology. digest of technical papers (cat. no.00ch37104), vlsi technology, 2000. digest of technical papers. 2000 symposium on, vlsi technology
(
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2001 symposium on vlsi technology. digest of technical papers (ieee cat. no.01 ch37184), vlsi technology, 2001. digest of technical papers. 2001 symposium on, vlsi technology
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2008 ieee international electron devices meeting, electron devices meeting, 2008. iedm 2008. ieee international
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ieee
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louisiana state medical society
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elsevier
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Name
ieee
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louisiana state medical society
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undetermined
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2001
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1
Modeling line edge roughness effects in sub 100 nanometer gate length devices
회의자료
issue
2000 International Conference on Simulation Semiconductor Processes and Devices (Cat. No.00TH8502) Simulation of semiconductor processes and devices Simulation of Semiconductor Processes and Devices, 2000. SISPAD 2000. 2000 International Conference on. :131-134 2000
Author
Oldiges, P.
Qimghuamg Lin
Petrillo, K.
Sanchez,
M
.
Ieong,
M
.
Hargrove
,
M
.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
2
RF potential of a 0.18-/spl mu/
m
CMOS logic technology
회의자료
issue
International Electron Devices Meeting 1999. Technical Digest (Cat. No.99CH36318) Electron devices Electron Devices Meeting, 1999. IEDM '99. Technical Digest. International. :853-856 1999
Author
Burghartz, J.N.
Hargrove
,
M
.
Webster, C.
Groves, R.
Keenes,
M
.
Jenkins, K.
Edelstein, D.
Logan, R.
Nowak, E.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
3
High-current characterization of dual-damascene copper interconnects in SiO/sub 2/- and low-k interlevel dielectrics for advanced CMOS semiconductor technologies
회의자료
issue
1999 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 37th Annual (Cat. No.99CH36296) Reliability physics Reliability Physics Symposium Proceedings, 1999. 37th Annual. 1999 IEEE International. :144-153 1999
Author
Voldman, S.
Gauthier, R.
Morrisseau, K.
Hargrove
,
M
.
McGahay, V.
Gross, V.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
4
Characterization of Fast Relaxation During BTI Stress in Conventional and Advanced CMOS Devices With $\hbox{HfO}_{2}/\hbox{TiN}$ Gate Stacks
학술저널
issue
IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 55(11):3175-3183 Nov, 2008
Author
Kerber, A.
Maitra, K.
Majumdar, A.
Hargrove
,
M
.
Carter, R. J.
Cartier, E. A.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
등재 - Web of Science (SCIE)
등재 - SCOPUS
조회 - Impact Factor (JCR)
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5
High-performance sub-0.08 /spl mu/
m
CMOS with dual gate oxide and 9.7 ps inverter delay
회의자료
issue
International Electron Devices Meeting 1998. Technical Digest (Cat. No.98CH36217) Electron devices - IEDM 1998 Electron Devices Meeting, 1998. IEDM '98. Technical Digest., International. :627-630 1998
Author
Hargrove
,
M
.
Crowder, S.
Nowak, E.
Logan, R.
Han, L.K.
Ng, H.
Ray, A.
Sinitsky, D.
Smeys, P.
Guarin, F.
Oberschmidt, J.
Crabbe, E.
Yee, D.
Su, L.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
6
Multifoci effects of injustice on counterproductive work behaviors and the moderating roles of symbolization and victim sensitivity
학술저널
issue
Journal of Organizational Behavior, 2018 Oct 01. 39(8), 1022-1039.
Author
Lavelle, James J.
Harris, Christopher
M
.
Rupp, Deborah E.
Herda, David N.
Young, Randall F.
Hargrove
,
M
. Blake
Thornton-Lugo, Meghan Ann
McMahan, Gary C.
DB Label
Database : JSTOR Journals
원문보기
Full Text (원문보기)
Full Text (원문보기)
Full Text (Wiley-DB)
등재 - SCOPUS
조회 - Impact Factor (JCR)
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7
Electrical characteristics and reliability of sub-3 nm gate oxides grown on nitrogen implanted silicon substrates
회의자료
issue
International Electron Devices Meeting. IEDM Technical Digest Electron Devices Electron Devices Meeting, 1997. IEDM '97. Technical Digest., International. :643-646 1997
Author
Han, L.K.
Crowder, S.
Hargrove
,
M
.
Wu, E.
Lo, S.H.
Guarin, F.
Crabbe, E.
Su, L.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
8
Gate length scaling and high drive currents enabled for high performance SOI technology using high-κ/metal gate
회의자료
issue
2008 IEEE International Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting, 2008. IEDM 2008. IEEE International. :1-4 Dec, 2008
Author
Henson, K.
Bu, H.
Na,
M
. H.
Liang, Y.
Kwon, U.
Krishnan, S.
Schaeffer, J.
Jha, R.
Moumen, N.
Carter, R.
DeWan, C.
Donaton, R.
Guo, D.
Hargrove
,
M
.
He, W.
Mo, R.
Ramachandran, R.
Ramani, K.
Schonenberg, K.
Tsang, Y.
Wang, X.
Gribelyuk,
M
.
Yan, W.
Shepard, J.
Cartier, E.
Frank,
M
.
Harley, E.
Arndt, R.
Knarr, R.
Bailey, T.
Zhang, B.
Wong, K.
Graves-Abe, T.
Luckowski, E.
Park, D-G.
Narayanan, V.
Chudzik,
M
.
Khare,
M
.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
9
RF potential of a 0.18-/spl mu/
m
CMOS logic device technology
학술저널
issue
IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 47(4):864-870 Apr, 2000
Author
Burghartz, J.N.
Hargrove
,
M
.
Webster, C.S.
Groves, R.A.
Keene,
M
.
Jenkins, K.A.
Logan, R.
Nowak, E.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
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등재 - SCOPUS
조회 - Impact Factor (JCR)
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10
High-performance high-κ/metal gates for 45nm CMOS and beyond with gate-first processing
회의자료
issue
2007 IEEE Symposium on VLSI Technology VLSI Technology, 2007 IEEE Symposium on. :194-195 Jun, 2007
Author
Chudzik,
M
.
Doris, B.
Mo, R.
Sleight, J.
Cartier, E.
Dewan, C.
Park, D.
Bu, H.
Natzle, W.
Yan, W.
Ouyang, C.
Henson, K.
Boyd, D.
Callegari, S.
Carter, R.
Casarotto, D.
Gribelyuk,
M
.
Hargrove
,
M
.
He, W.
Kim, Y.
Linder, B.
Moumen, N.
Paruchuri, V. K.
Stathis, J.
Steen,
M
.
Vayshenker, A.
Wang, X.
Zafar, S.
Ando, T.
Iijima, R.
Takayanagi,
M
.
Narayanan, V.
Wise, R.
Zhang, Y.
Divakaruni, R.
Khare,
M
.
Chen, T. C.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
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LG 상남도서관
가톨릭대학교 도서관
강남대학교 도서관
강릉대학교 도서관
강원대학교 삼척캠퍼스 도서관
강원대학교 중앙도서관
건국대학교 상허기념도서관
경기대학교 중앙도서관
경남과학기술대학교 도서관
경남대학교 중앙도서관
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