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Conference Materials
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(22)
주제
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Name
soft error
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radiation hardening
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single event upsets
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extracorporeal membrane oxygenation
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photonics and electrooptics
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radiation hardening (electronics)
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soft errors
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single-event upset (seu)
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flip-flop circuits
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간행물
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Name
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Total-Ionizing Dose Damage from X-Ray PCB Inspection Systems
회의자료
issue
2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024 IEEE. :1-7 Apr, 2024
Author
Pieper, N.J.
Chun, M.
Xiong, Y.
Dattilo, H.M.
Kronenberg, J.
Baeg, S.
Wen, S.-J.
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Escobar, C.
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2
Single-Event Upset Cross Section at High Frequencies for RHBD Flip-Flop Designs at the 5-nm Bulk FinFET Node
학술저널
issue
IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 71(4):839-844 Apr, 2024
Author
Xiong, Y.
Pieper, N.J.
Qian, Y.
Wodzro, S.E.
Narasimham, B.
Fung
,
R
.
Wen, S.
Bhuva, B.L.
DB Label
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조회 - Impact Factor (JCR)
3
Temperature Dependence of Critical Charge and Collected Charge in 5-nm FinFET SRAM
학술저널
issue
IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 71(4):861-868 Apr, 2024
Author
Pieper, N.J.
Xiong, Y.
Pasternak, J.
Fung
,
R
.
Wen, S.
Ball, D.
R
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Bhuva, B.L.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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조회 - Impact Factor (JCR)
4
Impact of CnRx Structure on Soft Error Rates of Flip-Flop Designs at 22-nm FD SOI Node
학술저널
issue
IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 70(8):1768-1774 Aug, 2023
Author
Elash, C.J.
Li, Z.
Jin, C.
Chen, L.
Wen, S.
Fung
,
R
.
Xing, J.
Shi, S.
Yang, Z.W.
Bhuva, B.L.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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조회 - Impact Factor (JCR)
5
SEU Performance of RHBD Flip-Flops Using Guard Gates at 22-nm FDSOI Technology Node
학술저널
issue
IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 70(8):1760-1767 Aug, 2023
Author
Li, Z.
Elash, C.
Xing, J.
Jin, C.
Chen, L.
Wen, S.
Fung
,
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.
Shi, S.
Yang, Z.W.
Bhuva, B.L.
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Database : IEEE Xplore Digital Library
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조회 - Impact Factor (JCR)
6
Efficacy of Transistor Stacking on Flip-Flop SEU Performance at 22-nm FDSOI Node
학술저널
issue
IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 70(4):596-602 Apr, 2023
Author
Li, Z.
Elash, C.
Jin, C.
Chen, L.
Wen, S.
Fung
,
R
.
Xing, J.
Shi, S.
Yang, Z.W.
Bhuva, B.L.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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조회 - Impact Factor (JCR)
7
A 16nm All-Digital Hardware Monitor for Evaluating Electromigration Effects in Signal Interconnects Through Bit-Error-Rate Tracking
학술저널
issue
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability IEEE Trans. Device Mater. Relib. Device and Materials Reliability, IEEE Transactions on. 22(2):194-204 Jun, 2022
Author
Pande, N.
Zhou, C.
Lin, M.
Fung
,
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.
Wong,
R
.
Wen, S.
Kim, C.H.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
등재 - Web of Science (SCIE)
등재 - SCOPUS
조회 - Impact Factor (JCR)
8
Micro-Latchup Location and Temperature Characterization in a 7-nm Bulk FinFET Technology
회의자료
issue
2021 21th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS) Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), 2021 21th European Conference. :1-7 Sep, 2021
Author
Pieper, N. J.
Xiong, Y.
Feeley, A.
Walker, D. G.
Fung
,
R
.
Wen, S.-J.
Ball, D.
R
.
Bhuva, B. L.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
9
Effects of Temperature and Supply Voltage on Soft Errors for 7-nm Bulk FinFET Technology
회의자료
issue
2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021 IEEE International. :1-5 Mar, 2021
Author
Feeley, A.
Xiong, Y.
Bhuva, B. L.
Narasimham, B.
Wen, S.-J.
Fung
,
R
.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
10
Frequency, LET, and Supply Voltage Dependence of Logic Soft Errors at the 7-nm Node
회의자료
issue
2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021 IEEE International. :1-5 Mar, 2021
Author
Xiong, Y.
Feeley, A.
Massengill, L.W.
Bhuva, B.L.
Wen, S.-J.
Fung
,
R
.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
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LG 상남도서관
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