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검색어 [키워드: "Farris, M."]
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회의자료

issue
2012 IEEE International Conference on Robotics and Automation Robotics and Automation (ICRA), 2012 IEEE International Conference on. :5315-5321 May, 2012
Author
Forney, C.
Manii, E.
Farris, M.
Moline, M.A.
Lowe, C.G.
Clark, C.M.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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4

학술저널

issue
Transportation Journal (Pennsylvania State University Press). Winter2024, Vol. 63 Issue 1, p62-69. 8p.
Author
Theodore Farris, M.1 farris@unt.edu
Gabaldon, Janeth2
Gravier, Michael J.3
DB Label
Database : Business Source Complete
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5

단행본

Author
Farris, M. E.
DB Label
Database : Government Publishing Office Catalog
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6

회의자료

issue
Proceedings of the 7th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 1996. Proceedings of the 7th European Symposium on. :1715-1718 1996
Author
Verhaege, K.
Robinson-Hahn, D.
Russ, C.
Farris, M.
Scanlon, J.
D. Lin
Veltri, J.
Groenseneken, G.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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7

회의자료

issue
1996 Proceedings Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium Electrical overstress/electrostatic discharge symposium Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, 1996. Proceedings. :40-53 1996
Author
Verhaege, K.
Russ, C.
Robinson-Hahn, D.
Farris, M.
Scanlon, J.
Lin, D.
Veltri, J.
Groeseneken, G.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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8

회의자료

issue
2006 Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, 2006. EOS/ESD '06.. :354-363 Sep, 2006
Author
Chaine, M.
Meuse, T.
Ashton, R.
Henry, L.G.
Natarajan, M.T.
Barth, J.
Ting, L.
Gieser, H.
Voldman, S.
Farris, M.
Grund, E.
Ward, S.
Kelly, M.
Gross, V.
Narayan, R.
Johnson, L.
Gaertner, R.
Peachey, N.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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