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Contribution of Secondary Alpha Particles to Soft Error Rates in Space Systems
학술저널
issue
IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 71(4):535-541 Apr, 2024
Author
Cadena, R.M.
Warren, K.M.
Dodds
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Trippe, J.M.
Sierawski, B.D.
Ball, D.R.
Reed, R.A.
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2
Response of 5-nm Bulk FinFET SRAMs to Extreme Ionizing and Non-Ionizing Doses
학술저널
issue
IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 71(4):437-445 Apr, 2024
Author
Xiong, Y.
Pieper, N.J.
Dodds
,
N.A
.
Vizkelethy, G.
Nowlin, R.N.
Bhuva, B.L.
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조회 - Impact Factor (JCR)
3
The Effects of Threshold Voltage and Number of Fins Per Transistor on the TID Response of GF 12LP Technology
학술저널
issue
IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 71(4):477-484 Apr, 2024
Author
Vidana, A.I.
Dodds
,
N.A
.
Nowlin, R.N.
Wallace, T.M.
Oldiges, P.J.
Dodd, B.M.
Xiong, J.
Cadena, R.M.
Trippe, J.
Kauppila, J.S.
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조회 - Impact Factor (JCR)
4
Single-Event Upsets for Single-Port and Two-Port SRAM Cells at the 5-nm FinFET Technology
학술저널
issue
IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 70(8):1673-1679 Aug, 2023
Author
Pieper, N.J.
Xiong, Y.
Pasternak, J.
Dodds
,
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.
Ball, D.R.
Bhuva, B.L.
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5
Response of Integrated Silicon Microwave pin Diodes to X-Ray and Fast-Neutron Irradiation
학술저널
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IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 69(3):282-289 Mar, 2022
Author
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Parameswaran, H.
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6
Sensitive-Volume Model of Single-Event Latchup for a 180-nm SRAM Test Structure
학술저널
issue
IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 67(9):2015-2020 Sep, 2020
Author
Wang, P.
Sternberg, A.L.
Sierawski, B.D.
Zhang, E.X.
Warren, K.M.
Tonigan, A.M.
Brewer, R.M.
Dodds
,
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Vizkelethy, G.
Jordan, S.L.
Fleetwood, D.M.
Reed, R.A.
Schrimpf, R.D.
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Response of Waveguide-Integrated Germanium-on-Silicon p-i-n Photodiodes to Neutron Displacement Damage
학술저널
issue
IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 67(1):296-304 Jan, 2020
Author
Goley, P.S.
Dodds
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Frounchi, M.
Tzintzarov, G.N.
Nowlin, R.N.
Cressler, J.D.
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8
Analysis of TPA Pulsed-Laser-Induced Single-Event Latchup Sensitive-Area
학술저널
issue
IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 65(1):502-509 Jan, 2018
Author
Wang, P.
Sternberg, A.L.
Kozub, J.A.
Zhang, E.X.
Dodds
,
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.
Jordan, S.L.
Fleetwood, D.M.
Reed, R.A.
Schrimpf, R.D.
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