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logic gates
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stress
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thin film transistors
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logic gates
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stress
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applied physics letters
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간행물
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ieee transactions on electron devices
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surface & coatings technology
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1
BRCA1/2 mutation status in patients with metachronous breast and ovarian malignancies: clues towards the implementation of genetic counseling
학술저널
issue
Journal of Gynecologic Oncology
. 31(3):e24-e24
Author
Chao, Angel
Lin, Yi-Hao
Yang, Lan-Yan
Wu, Ren-Chin
Chang
, Wei-Yang
Chang
, Pi-Yueh
Chang
, Shih-Cheng
Lin, Chiao-Yun
Huang, Huei-Jean
Lin, Cheng-Tao
Chou, Hung-Hsueh
Huang, Kuan-Gen
Kuo, Wen-Ling
Chang, Ting-Chang
Lai, Chyong-Huey
DB Label
Database : KoreaMed
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View Record (KoreaMed)
2
Illumination Assisted Negative Bias Temperature Instability Degradation in Low-Temperature Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors
회의자료
issue
한국정보디스플레이학회 2009년도 9th International Meeting on Information Display
. 2009 2009:550-552
Author
Lin, Chia-Sheng
Chen, Ying-Chung
Chang, Ting-Chang
Hsu, Wei-Che
Chen, Shih-Ching
Li, Hung-Wei
DB Label
Database : KoreaScience
원문보기
Open Access (KoreaScience)
3
Comparative study on characteristics of GaN-based MIS-HEMTs with Al2O3 and Si3N4 gate insulators under Hot Carrier Degradation
회의자료
issue
2023 35th International Conference on Microelectronic Test Structure (ICMTS) Microelectronic Test Structure (ICMTS), 2023 35th International Conference on. :1-4 Mar, 2023
Author
Wu, Pei-Yu
Tsai, Xin-Ying
Chang
,
Ting
-
Chang
Tsai, Tsung-Ming
Sze, Simon M.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
4
Improving Performance of FBARs by Advanced Low-Temperature High-Pressure Technology
회의자료
issue
2023 35th International Conference on Microelectronic Test Structure (ICMTS) Microelectronic Test Structure (ICMTS), 2023 35th International Conference on. :1-4 Mar, 2023
Author
Tu, Yu-Fa
Chang
,
Ting
-
Chang
Zhou, Kuan-Ju
Hung, Wei-Chun
Kuo,
Ting
-Tzu
Lien, Chen-Hsin
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
5
An Extended Method to Analyze Boron Diffusion Defects in 16 nm Node High-Voltage FinFETs
회의자료
issue
2023 35th International Conference on Microelectronic Test Structure (ICMTS) Microelectronic Test Structure (ICMTS), 2023 35th International Conference on. :1-4 Mar, 2023
Author
Kuo,
Ting
-Tzu
Chen, Ying-Chung
Chang
,
Ting
-
Chang
Ciou, Fong-Min
Yeh, Chien-Hung
Chen, Po-Hsun
Sze, Simon M
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
6
Analysis of Critical Schottky Distance Effect and Distributed Set Voltage in HfO2-based 1T-1R Device
회의자료
issue
2023 35th International Conference on Microelectronic Test Structure (ICMTS) Microelectronic Test Structure (ICMTS), 2023 35th International Conference on. :1-4 Mar, 2023
Author
Lin, Shih-Kai
Chang
,
Ting
-
Chang
Huang, Wei-Chen
Tan, Yung-Fang
Lien, Chen-Hsin
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
7
Investigating the Relationship Between Kink Voltage and Width Effect in GaN-on-SiC HEMTs
회의자료
issue
2023 International VLSI Symposium on Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA/VLSI-DAT) Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA/VLSI-DAT), 2023 International VLSI Symposium on. :1-2 Apr, 2023
Author
Wu, Yi-Zhen
Jin, Fu-Yuan
Kuo,
Ting
-Tzu
Chen, Po-Hsun
Chang
,
Ting
-
Chang
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
8
Investigation of Hydrogen Diffusion in Top Gate IGZO TFTs by Using Various Pulse-Width Operation Method and Capacitance-Voltage Analysis
회의자료
issue
2023 International VLSI Symposium on Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA/VLSI-DAT) Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA/VLSI-DAT), 2023 International VLSI Symposium on. :1-2 Apr, 2023
Author
Chen, Yu-An
Chang
,
Ting
-
Chang
Chien, Ya-
Ting
Lee, Po-Yi
Shao, Kui-You
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
9
Improving the fabricated Rate and Reliability of Top Gate a-IGZO TFTs under Positive Bias Stress by Using Double-Stacked Gate Insulator Layer Design
회의자료
issue
2023 International VLSI Symposium on Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA/VLSI-DAT) Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA/VLSI-DAT), 2023 International VLSI Symposium on. :1-2 Apr, 2023
Author
Huang, Bo-Shen
Chang
,
Ting
-
Chang
Tai, Mao-Chou
Yen, Po-Yu
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
10
A Comprehensive Negative Bias Temperature Instability Model for Gallium-nitride Metal-insulator-semiconductor High Electron Mobility Transistors From 77K to 393K
회의자료
issue
2021 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2021 IEEE International Symposium on the. :1-4 Sep, 2021
Author
Kuo,
Ting
-Tzu
Chen, Ying-Chung
Lin, Yu-Shan
Chien, Yu-Chieh
Ciou, Fong-Min
Chen, Po-Hsun
Chang
,
Ting
-
Chang
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
1
2
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LG 상남도서관
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경남과학기술대학교 도서관
경남대학교 중앙도서관
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