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Leveraging Commonsense for Object Localisation in Partial Scenes 미리보기

학술저널

issue
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence IEEE Trans. Pattern Anal. Mach. Intell. Pattern Analysis and Machine Intelligence, IEEE Transactions on. 45(10):12038-12049 Oct, 2023
Author
Giuliari, F.
Skenderi, G.
Cristani, M.
Bue, A.D.
Wang, Y.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)  등재 - Web of Science (SCIE)  등재 - SCOPUS  조회 - Impact Factor (JCR) 
2
No Adversaries to Zero-Shot Learning: Distilling an Ensemble of Gaussian Feature Generators 미리보기

학술저널

issue
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence IEEE Trans. Pattern Anal. Mach. Intell. Pattern Analysis and Machine Intelligence, IEEE Transactions on. 45(10):12167-12178 Oct, 2023
Author
Cavazza, J.
Murino, V.
Bue, A.D.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)  등재 - Web of Science (SCIE)  등재 - SCOPUS  조회 - Impact Factor (JCR) 
3
Unsupervised Synthetic Acoustic Image Generation for Audio-Visual Scene Understanding 미리보기

학술저널

issue
IEEE Transactions on Image Processing IEEE Trans. on Image Process. Image Processing, IEEE Transactions on. 31:7102-7115 2022
Author
Sanguineti, V.
Morerio, P.
Bue, A.D.
Murino, V.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)  등재 - Web of Science (SCIE)  등재 - SCOPUS  조회 - Impact Factor (JCR) 
4
The Visual Social Distancing Problem 미리보기

학술저널

issue
IEEE Access Access, IEEE. 8:126876-126886 2020
Author
Cristani, M.
Bue, A.D.
Murino, V.
Setti, F.
Vinciarelli, A.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
등재 - Web of Science (SCIE)  등재 - SCOPUS  조회 - Impact Factor (JCR) 
5
Deep Endoscope: Intelligent Duct Inspection for the Avionic Industry 미리보기

학술저널

issue
IEEE Transactions on Industrial Informatics IEEE Trans. Ind. Inf. Industrial Informatics, IEEE Transactions on. 14(4):1701-1711 Apr, 2018
Author
Martelli, S.
Mazzei, L.
Canali, C.
Guardiani, P.
Giunta, S.
Ghiazza, A.
Mondino, I.
Cannella, F.
Murino, V.
Bue, A.D.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)  등재 - Web of Science (SCIE)  등재 - SCOPUS  조회 - Impact Factor (JCR)  원문복사신청 - FRIC 
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