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[키워드: "Afridi, M. Yaqub"]
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Test Chip to Evaluate Measurement Methods for Small Capacitances
회의자료
issue
2009 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures Microelectronic Test Structures, 2009. ICMTS 2009. IEEE International Conference on. :39-42 Mar, 2009
Author
Kopanski, Joseph J.
Afridi
,
M
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Yaqub
Jiang, Chong
Richter, Curt A.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
2
MEMS microhotplate temperature sensor BIST: Importance and applications
회의자료
issue
2010 IEEE Sensors Sensors, 2010 IEEE. :2159-2160 Nov, 2010
Author
Afridi
,
M
.
Yaqub
Geist, Jon
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
3
Modeling heterogeneous SoCs with SystemC : a digital/MEMS case study
회의자료
issue
Proceedings of the 2006 international conference on Compilers, architecture and synthesis for embedded systems
. :54-64
Author
Varma, Ankush
Afridi
,
M
.
Yaqub
Akturk, Akin
Klein, Paul
Hefner, Allen R.
Jacob, Bruce
DB Label
Database : ACM Full-Text Collection
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4
Advanced Capacitance Metrology for Nanoelectronic Device Characterization.
회의자료
issue
AIP Conference Proceedings; 9/28/2009, Vol. 1173 Issue 1, p328-332, 5p, 1 Diagram, 1 Chart, 5 Graphs
Author
Richter, Curt A.
Kopanski, Joseph J.
Chong Jiang
Yicheng Wang
Afridi
,
M
.
Yaqub
Xiaoxiao Zhu
Ioannou, D. E.
Qiliang Li
DB Label
Database : Complementary Index
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5
Simple thermal-efficiency model for CMOS-microhotplate design
학술저널
issue
JOURNAL OF RESEARCH OF THE NATIONAL INSTITUTE OF STANDARDS AND TECHNOLOGY
; MAY-JUN 2006, 111 3, p243-p253, 11p.
Author
Geist, Jon
Afridi
,
M
.
Yaqub
Varma, Ankush
Hefner, Allen R.
DB Label
Database : Science Citation Index Expanded
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