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학술저널

issue
IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 57(6):1673-1683 Jun, 2022
Author
Zheng, Z.
Wei, L.
Lagos, J.
Martens, E.
Zhu, Y.
Chan, C.
Craninckx, J.
Martins, R.P.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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4

학술저널

issue
IEEE Journal of Translational Engineering in Health and Medicine IEEE J. Transl. Eng. Health Med. Translational Engineering in Health and Medicine, IEEE Journal of. 10:1-8 2022
Author
Zou, C.
Muller, A.
Wolfgang, U.
Ruckert, D.
Muller, P.
Becker, M.
Steger, A.
Martens, E.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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5

학술저널

issue
IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 56(8):2360-2374 Aug, 2021
Author
Hershberg, B.
Dermit, D.
van Liempd, B.
Martens, E.
Markulic, N.
Lagos, J.
Craninckx, J.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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6

학술저널

issue
IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers IEEE Trans. Circuits Syst. I Circuits and Systems I: Regular Papers, IEEE Transactions on. 68(7):2813-2826 Jul, 2021
Author
Hershberg, B.
van Liempd, B.
Markulic, N.
Lagos, J.
Martens, E.
Dermit, D.
Craninckx, J.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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7

학술저널

issue
IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 56(4):1227-1240 Apr, 2021
Author
Hershberg, B.
Markulic, N.
Lagos, J.
Martens, E.
Dermit, D.
Craninckx, J.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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9

학술저널

issue
IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs IEEE Trans. Circuits Syst. II Circuits and Systems II: Express Briefs, IEEE Transactions on. 68(2):592-596 Feb, 2021
Author
Bunsen, K.
Martens, E.
Dermit, D.
Craninckx, J.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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10

학술저널

issue
IEEE Solid-State Circuits Letters IEEE Solid-State Circuits Lett. Solid-State Circuits Letters, IEEE. 3:150-153 2020
Author
Dermit, D.
Shrivas, M.
Bunsen, K.
Benites, J.L.
Craninckx, J.
Martens, E.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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